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<생생코스피>인텍플러스, 표면형상 측정 시스템 등 대만 특허 2건 취득
뉴스종합
|
2013-02-06 16:20
인텍플러스는 표면 형상 측정 시스템 및 그를 이용한 측정 방법과 반도체 소자의 비전 검사 시스템에 관한 2건의 대만 특허권을 취득했다고 6일 공시했다.
회사측은 “외관검사장비의 경쟁력 강화에 활용할 계획”이라고 밝혔다.
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