인텍플러스는 입체형상측정장치(이중미러+이중빔분할기)에 관한 특허권을 취득했다고 30일 공시했다.

회사측은 “이번 특허는 입체 형상을 가지는 측정물에 대한 최고점의 측정광과 동일한 기준광 및 최저점의 측정광과 동일한 기준광을 각각 생성하는 반사거리 조절수단을 구비하여, 측정물의 최저점과 최고점에 대한 간섭무늬를 동시에 획득할 수 있도록하는 입체 형상 측정장치에 관한 것”이라고 설명했다.


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